寶石測量
寶石工業由于一系列原因產生測量需求，其中主要測量是弱信號測量和快速測量系統，以滿足大批量寶石的測量需求。Avantes公司提供基本的測量工具以及測量系統以滿足寶石的測量要求，這些測量可以用相對簡單的使用積分球或反射探頭的系統完成，也可以是復雜的需要激光器和熱電制冷光譜儀的光致發光測量系統。
基本寶石測量
寶石學家通常有兩個基本問題，“我需要測量的寶石的特征是什么？”和“這些特征是天然的嗎？”。這是因為寶石業已經開發了多種方法來提高寶石的性能，如改善寶石的顏色和隱藏寶石的瑕疵，所采用的方法包括熱處理、輻照、樹脂充填、激光打孔，甚至簡單的表面處理，如利用石油產品進行表面處理。
一臺典型的基本測量系統包括一臺VARIUS光譜儀，一個WS-2-GEM寶石測量專用白參考瓦，一根FCR-7UV200-2-BX反射探頭光纖和一臺AvaLight-HAL鹵素燈光源或 AvaSphere-50-LS-HAL帶內置鹵素燈光源的反射型積分球。即使有許多可能的應用，但對紅寶石中鉻的主要峰（692.8nm和694.2nm）和鉆石的la和lb型的測定會經常被測量。Ia型鉆石或無色鉆石在415nm和478nm有很強的氮吸收峰，而lb型鉆石或黃色鉆石中的氮原子有很寬的吸收光譜分布，就會消除這些峰。其他有用的峰分布在592nm和741nm，它們標志著鉆石經過寶石人工著色。
